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产品系列
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪
仪器介绍
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。
技术参数
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内i高的160MHz。 LJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术: 1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。 4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。 7 计算机自动修正技术和测试回路z优化 —使测试回路 残余电感减至zui低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 LJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。 | |
主要技术特性 | |
Q 值测量范围 | 2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档 |
固有误差 | ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) |
工作误差 | ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) |
电感测量范围 | 4.5nH ~ 140mH |
电容直接测量范围 | 1 ~ 200pF |
主电容调节范围 | 18 ~ 220pF |
主电容调节准确度 | 120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 % |
信号源频率覆盖范围 | 100kHz ~ 160MHz |
频率分段 ( 虚拟 ) | 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz |
频率指示误差 | 3 × 10 -5 ± 1 个字 |
LJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪
仪器介绍
LJD-B全数字显示介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。
LJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.
技术参数
信号源频率范围 | DDS数字合成 10KHz-60MHz | Q测量范围 | 1-1000自动/手动量程 |
信号源频率覆盖比 | 6000:1 | Q分辨率 | 4位有效数,分辨率0.1 |
信号源频率精度 | 3X10 -5 ±1个字,6位有效数 | Q测量工作误差 | <5% |
电感测量范围 | 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH | 调谐电容 | 主电容30-500PF |
电感测量误差 | <5% | 调谐电容误差和分辨率 | ±1.5P或<1% |
标准测量频点 | 全波段任意频率下均可测试 | Q合格预置范围 | 5-1000声光提示 |
谐振点搜索 | 自动扫描 | Q量程切换 | 自动/手动 |
谐振指针 | LCD显示 | LCD显示参数 | F,L,C,Q,波段等 |